FAT (Funktions- und Abgleichtest)

- 8 Funktionstestplätze
- über 400 I/O bis 500V/8A
- AC / DC Source
- Arbitary Waveformgenerator
- alles Softwaregesteuert

ICT (In-Circuit-Test)

- 1 In-Circuit Testsystem
- Besonders geeignet für Großserien

Flying Probe Testsystem

- 4 Flying Probe Testköpfe, Steuerung in X-, Y- und Z-Achse über Linearmotoren
- Kamera-Modul für Auto-Ausrichtung
- Modulare und voll parallele Hardware-Architektur, Pulsmesstechnik mit programmierbarem Timing
- ICT-Instruments mit 8-Draht Bus, Aktives Guarding Modul
- Lesen und Auswerten von 2D-Codes
- Automatische Türsteuerung
- Kontaktierung über SMD- und THT-Pads, Testpunkte und Vias ab einer Größe von 200µm
- Kurze Programmerstellungszeit und Einsparung von Prüfadaptern
- Präzise Fehlerlokalisierung

Safety Test

- Hochspannungstest, Schutzleiter, Ableitstromprüfung
- Bis 6kV AC / 8,5kV DC
- Spannungsrückmessung, Kontaktierüberwachung
- Prüfdatenerfassung

Run-In, Burn-In

Im Run-In-Test wird die Langlebigkeit und Ausfallsicherheit von Baugruppen und Geräten getestet. Dabei werden über die Versorgungsspannung Grundlasten und zyklische Belastungen simuliert. Run-In-Tests werden vor allem bei Geräten mit langer aktiver Betriebszeit angewendet.

Programmierung

Wir verfügen über eine Vielzahl von IN-System und Offline Programmiergeräten für die unterschiedlichsten Controllertypen. Gerne prüfen wir im Zuge Ihrer konkreten Anfrage zur Programmierung die interne Verfügbarkeit in unserem Haus und erweitern diese bei Bedarf entsprechend.

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