FAT (Funktions- und Abgleichtest)

- 8 Funktionstestplätze
- über 400 I/O bis 500V/8A
- AC / DC Source
- Arbitary Waveformgenerator
- alles Softwaregesteuert

ICT (In-Circuit-Test)

- 1 In-Circuit Testsystem
- Besonders geeignet für Großserien

Flying Probe Testsystem

- 4 Flying Probe Testköpfe, Steuerung in X-, Y- und Z-Achse über Linearmotoren
- Kamera-Modul für Auto-Ausrichtung
- Modulare und voll parallele Hardware-Architektur, Pulsmesstechnik mit programmierbarem Timing
- ICT-Instruments mit 8-Draht Bus, Aktives Guarding Modul
- Lesen und Auswerten von 2D-Codes
- Automatische Türsteuerung
- Kontaktierung über SMD- und THT-Pads, Testpunkte und Vias ab einer Größe von 200µm
- Kurze Programmerstellungszeit und Einsparung von Prüfadaptern
- Präzise Fehlerlokalisierung

Safety Test

- Hochspannungstest, Schutzleiter, Ableitstromprüfung
- Bis 6kV AC / 8,5kV DC
- Spannungsrückmessung, Kontaktierüberwachung
- Prüfdatenerfassung

Run-In, Burn-In

Im Run-In-Test wird die Langlebigkeit und Ausfallsicherheit von Baugruppen und Geräten getestet. Dabei werden über die Versorgungsspannung Grundlasten und zyklische Belastungen simuliert. Run-In-Tests werden vor allem bei Geräten mit langer aktiver Betriebszeit angewendet.

Programmierung

Wir verfügen über eine Vielzahl von IN-System und Offline Programmiergeräten für die unterschiedlichsten Controllertypen. Gerne prüfen wir im Zuge Ihrer konkreten Anfrage zur Programmierung die interne Verfügbarkeit in unserem Haus und erweitern diese bei Bedarf entsprechend.

Cookies erleichtern die Bereitstellung unserer Dienste. Mit der Nutzung unserer Dienste erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Cookies verwenden.